PCE-SGM 60 Parlaklık Ölçüm Cihazı

Parlaklık ölçer kalite kontrolünde kullanılır / 60°açı / 3.5”TFT ekran / düşük ölçüm süresi / küçük ölçüm alanı / 1000 PÜ(Parlaklık Ünitesi)’ne kadar ölçüm

Küçük ölçüm alanlı parlaklık ölçer, ölçülmesi gereken yüzeylerde kullanılır. Parlaklık ölçer, yansıma prensibi olarak bilinen bir ışık kaynağından test edilecek yüzey üzerine ışık göndererek çalışır ve ışık parçacıkları yansımasına göre yüzey parlaklık seviyesini hesaplar. Parlaklık ölçer PCE-SGM 60’ın ölçüm geometrisi 60 derecedir ve ayarlanamaz. Değerlendirme yazılımı bir bilgisayarda ölçüm verilerini okumak, analiz etmek ve sonuçları saklamak için kullanılır ve cihaz ile birlikte gelir. Ayarlara bağlı olarak 5,000 kadar ölçüm değerini alabilen veri hafızası vardır.

- Ölçüm geometrisi: 60 °
- 1000 PÜ kadar ölçüm
- 5000 okumaya kadar hafıza

- Küçük ölçüm alanı
- 0,5 saniye ölçüm süresi
- Dâhili değerlendirme yazılımı

Ölçüm Geometrisi

60 °

Ekran

3.5 "TFT dokunmatik ekran

Standart

ISO 2813
GB / T 9754
ASTM D 523
ASTM D 2457

Ölçüm Alanı

1,5 mm x 2 mm / 0,06inç x 0,07 inç

Ölçüm Aralığı

0...1000 PÜ

Okunabilirlik

0,1 PÜ

Tekrarlanabilirlik

Ölçüm Aralığı 0...10 PÜ: ± 0,1 PÜ
Ölçüm Aralığı 10...100 PÜ: ± 0,2 PÜ
Ölçüm Aralığı 10...1000 PÜ: ± 0,2 (%)

Yeniden Üretilebilirlik

Ölçüm Aralığı 0...10 PÜ: ± 0,2 PÜ
Ölçüm Aralığı 10...100 PÜ: ± 0,5 PÜ
Ölçüm Aralığı 10...1000 PÜ: ± 0,5 (%)

Renklilik

CIE C ışık kaynağı altında CIE 1931 (2°) benzer

Ölçüm Doğruluğu

± 1,5 / ± 1,5 %

Ölçüm Süresi

0,5 saniye

Boyut

160 x 75 x 90 mm / 6,3 x 3 x 3,5

Ağırlık

350 gram / 12,3 oz

Menü Dili

İngilizce, Çince

Güç Kaynağı

3200 mAh Li-ion Batarya

Arayüz

USB / RS-232

Ölçüm Hafızası

Basit Ölçüm: 1000
İstatistiksel Mod: 5000
Sürekli Ölçüm: 5000

Yazılım

Dâhili

Çevre Koşulları

0...+40 ° C / 32...104 ° F

Depolama Sıcaklığı

-20...+50 ° C / -4...122 ° F

Bağıl Nem

<85 % bağıl nem (yoğunlaşmamış)